（含技術(shù)研發(fā)需求的技術(shù)背景；希望達到的主要關(guān)鍵指標；技術(shù)研發(fā)需求的期待目標、面臨的技術(shù)難點(diǎn)及困難。）
產(chǎn)品平臺：側向層析熒光定量檢測卡
基本原理：基于時(shí)間分辨熒光微球的側向層析熒光定量檢測卡及配套時(shí)間分辨熒光定量檢測儀器
關(guān)鍵技術(shù)指標：檢測卡CV<10%，儀器CV<2%
技術(shù)難點(diǎn)：
檢測卡：最低檢測限（高靈敏度）；低CV（<10%）
檢測儀器：CV<2%;低故障率（<3%）
